掃描電鏡高溫原位系統是與掃描電鏡(SEM)集成，進行高溫力學性能測試一體化分析的科研儀器。可以在高溫下將材料的宏觀力學性能與對應的組織結構進行數萬倍以上放大并進行實時觀測和顯微成像，主要用于研究材料在高溫下的力學性能、變形、斷裂等失效機制微觀過程的觀測，該加熱系統也可以單獨使用。

　　本公司提供的掃描電鏡高溫原位系統有優異的熱學性能：

　　1.高精密紅外測溫校正，微米級高分辨熱場測量及校準，確保溫度的準確性。

　　2.超高頻控溫方式，排除導線和接觸電阻的影響，測量溫度和電學參數更精確。

　　3.采用高穩定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料)，既是熱導材料又是熱敏材料，其電阻與溫度有良好的線性關系，加熱區覆蓋整個觀測區域，升溫降溫速度快，熱場穩定且均勻，穩定狀態下溫度波動±1℃。

　　4.掃描電鏡高溫原位系統采用閉合回路高頻動態控制和反饋環境溫度的控溫方式，高頻反饋控制消除誤差，控溫精度±1 ℃。

　　5.多級復合加熱MEMS芯片設計，控制加熱過程熱擴散，極大抑制升溫過程的熱漂移，確保實驗的高效觀察。

　　6.加熱絲外部由氮化硅包覆，不與樣品發生反應，確保實驗的準確性。