超新芯上新啦
高真空檢漏儀2.0
01產品介紹
高真空檢漏儀是透射電鏡原位系統的重要配套設備，在進行每一次原位實驗時，都必須經過高真空檢漏儀的檢漏測試，以確保原位樣品桿及原位芯片的密封狀態，防止對電鏡產生損壞。因此，高真空檢漏儀的可靠性、單次檢漏的耗時是影響客戶體驗的重要因素。超新芯科技秉持客戶第一的理念，對產品持續進行迭代升級。希望客戶不僅能用好原位系統，也希望原位系統越來越好用。
02設計優化：經過持續不斷的設計優化，超新芯高真空檢漏儀迎來了2.0版本，檢漏耗時及極限真空等性能均得到了提升。
①檢漏耗時減少：達到4.6×10-6hPa，耗時減少30%；達到1.0×10-6hPa，耗時減少50%。
（測試數據源于超新芯LAB，@26℃）
②極限真空提升：連續工作20h，真空值~10-8hPa，相同測試時間內的真空值提升一個數量級。
（測試數據源于超新芯LAB，@26℃）
配置清單
| 序號 | 名稱 | 數量 |
| 1 | 可視化高真空檢漏儀腔體（兼容指定電鏡） | 1套 |
| 2 | 高真空預抽系統 | 1套 |
| 3 | 高分辨顯微系統：自動對焦相機、數碼顯示屏、高分辨顯微鏡、照明同軸光源 | 1套 |
| 4 | 三維移動平臺系統 | 1套 |
| 5 | 撿漏儀支架及柜體 | 1臺 |
